⭐本セミナーでは、半導体の高品質化・高信頼化に向けたテスト生成技術、AIの活用、セキュリティとの関係性について、最新の技術トレンドを交えて解説します。
　
こちらは1/23実施WEBセミナーのアーカイブ（録画）配信です。期間中何度でも視聴できます
LIVE配信の視聴を希望される方は、こちら からお申し込み下さい。

R&D支援センターウェビナー【アーカイブ配信】のご案内

　　　　　　　配信開始日：2026年1月26日（月）
　　　　　　　配信終了日：2026年2月6日（金）
　　　　　　　参 加 費：55,000円（税込）

備　考

・こちらは 10/23（木）実施WEBセミナー のアーカイブ（録画）配信です。
・配信開始日までにセミナー資料、閲覧用URL（※データの編集は行っておりません）をお送りします。
・セミナー資料の無断転載、二次利用や講義の録音、録画などの行為を固く禁じます。
　
お申し込み受付中

申込方法

　下記のカートへの投入、あるいはFAX用紙にてお申込ください。

講　師

株式会社EVALUTO　講師・技術コンサルタント　工学博士　　畠山 一実 氏

【専門】
半導体テスト設計技術，高信頼化システム技術

【略歴】
1982年に京都大学大学院博士後期課程を修了(工学博士)。以降、日立製作所、ルネサステクノロジ、半導体理工学研究センターおよび奈良先端科学技術大学院大学にてテスト設計技術に関する研究開発に従事。その後、群馬大学にてテスト設計技術に関する研究に協力するとともに、日本大学生産工学部ほかにて非常勤講師を担当。現在は株式会社EVALUTOにて講師・技術コンサルタントを務める。

受講対象・レベル

　半導体を利用したシステムの研究開発や製造、品質保証に従事されている方

必要な予備知識

　論理回路に関する基礎的な知識

習得できる知識

　論理回路を含む半導体デバイスのテストに関する知識が得られることで、これを用いたシステムの研究開発や製造、品質保証などの実務遂行におけるテストの重要性を理解できる。

趣　旨

　ChatGPTやGemini等の生成AIの普及とともに、その処理に要する計算能力を供給する半導体の需要は非常に高まっています。また、自動運転車やスマートシティなどでも電子機器が中心的な役割を担っています。一方、半導体はデジタル変革(DX)のキーデバイスともなっており、半導体集積回路やそれを利用するシステムの品質、信頼性及びセキュリティは益々重要となっています。このような背景のもと、これらの重要な要件を支える技術として、半導体テストへの注目が高まっています。
　そこで、本講演では、半導体テストについて基礎から分かりやすく紹介します。とくに、AI用などの半導体で非常に重要となる論理回路のテストに関して、実際にテストに使用するテストパターンを作成する「テスト生成」、及び、テスト生成を実用的な時間で実行可能にする「テスト容易化設計」について、品質とコストを両立させるポイントを含めて詳しく説明します。
　さらに、最新の技術動向として、自動車用半導体等でとくに重要となる「高品質テスト」、テスト技術への「AI」の活用､そして、テスト技術と「セキュリティ」の関わりについて､最近の国際会議の論文に基づいて紹介します。

プログラム