化学品の市場調査、研究開発の支援、マーケット情報の出版

トリケップスセミナーのご案内

     開催日時:2019年10月17日(木)10:30~16:30
     会  場:オームビル  → 会場へのアクセス 
          〒101-8460 東京都千代田区神田錦町3-1
     参 加 費:お1人様受講の場合 46,000円 (税別/1名)
          1口(1社3名まで受講可能)でお申し込みの場合 57,000円 (税別/1口)
          お申し込み受付中

申込方法

 お1人様受講の場合、下記のカートへの投入、あるいはFAX用紙にてお申込ください。
 1口でお申し込みの場合、下記のFAX用紙にてお申込ください。
 折り返し、聴講券、会場地図、請求書を送付いたします。

  お1人様申込み
     FAX申込用紙PDF 
  1口(1社3名まで受講可能)でお申し込み    FAX申込用紙PDF 
 

講 師

瀬戸 屋孝(せとやたかし)氏
 東芝デバイス&ストレージ㈱ 品質統括責任者
 / JEITA 半導体信頼性技術委員会 主査

<略 歴>
 1983年 東芝入社 以降半導体の品質、信頼性業務に従事。2013年より現職。JEITA 半導体標準化技術専門委員会 委員長、JEITA 信頼性技術委員会 主査、日科技連 信頼性品質技術研究会 副委員長、RCJ(日本電子部品信頼性センター) 理事。

セミナーの概要

 EV/HEV 向けに個別半導体、特にパワーデバイスの需要は今後、飛躍的に伸びることが予測されています。パワーデバイスは、大きな電流、急激な温度変化など、通常の半導体デバイスとは異なるストレスの影響を受け、その信頼性をいかに保証するかが重要な課題となっています。 
 個別半導体の信頼性認定ガイドラインとしては、米国ビッグ3が中心になって策定され、今や世界標準になっているAEC-Q101があります。AEC-Q101は、車載用個別半導体を認定するための信頼性試験規格で、必要サンプル数の多さや試験時間の長さから評価コストが膨大になるという問題があります。その一方で、日本発の車載認定ガイドラインとしてJEITA ED-4711が2016年に発行され、現在、IECへ提案し国際標準化を進めています。
 本セミナーでは、AEC-Q101に準拠した試験を実施する場合の留意点と、問題点、対応方法について概説します。また、今後IEC化される日本版のAEC-Q101規格EDR-4711について、考え方、使い方について詳細に説明します。更に、車載用半導体を製造、販売するにあたって知っておくべき国際規格として、品質システムではIATF16949、工程監査ではVDA6.3 等の規格があり、独AQG324 等も注目されています。これらの車載用集積回路認定ガイドラインの動向、各種信頼性試験の必要性と問題点と知っておくべき国際規格についても、半導体メーカの立場から詳細に解説致します。

講義項目

 1 パワーデバイスの市場動向
  1.1 パワーエレクトロニクスとパワーデバイス
  1.2 パワーデバイスの応用範囲
  1.3 高耐圧化と低オン抵抗化の要求

 2 車載用半導体に要求される信頼性
  2.1 信頼性試験の目的
  2.2 信頼性試験の種類と役割
  2.3 個別半導体特有の故障モードと加速性
  2.4 パワーサイクル試験法と不良モード

 3 個別半導体の認定ガイドラインの説明
  3.1 AEC-Q101の内容と考え方
   *試験の進め方、条件、問題点 
  3.2 JEITA ED-4711の内容と考え方
   *品質保証の考え方、サンプル数、試験条件の考え方
  3.3 国際標準化の状況について

 4 車載用半導体に要求される品質システム
   *IAFF16949、VDA6.3、ISO26262、AQG324等の規格概説

 5 国際規格の動向
  5.1 AQC-Q101、AQG324等国際車載規格の動向
  5.2 国内の規格作成動向と国際規格化の動向