化学品の市場調査、研究開発の支援、マーケット情報の出版

トリケップスセミナーのご案内

     開催日時:2019年9月4日(水)11:00~17:00
     会  場:オームビル  → 会場へのアクセス 
          〒101-8460 東京都千代田区神田錦町3-1
     参 加 費:お1人様受講の場合 47,000円 (税別/1名)
          1口(1社3名まで受講可能)でお申し込みの場合 57,000円 (税別/1口)
          お申し込み受付中

申込方法

 お1人様受講の場合、下記のカートへの投入、あるいはFAX用紙にてお申込ください。
 1口でお申し込みの場合、下記のFAX用紙にてお申込ください。
 折り返し、聴講券、会場地図、請求書を送付いたします。

  お1人様申込み
     FAX申込用紙PDF 
  1口(1社3名まで受講可能)でお申し込み    FAX申込用紙PDF 
 

講 師

本山 晃(もとやまあきら)氏 
   M.A信頼性技術オフィス 代表

<略 歴>
 1977年4月 松下電工㈱ 入社 綜合技術研究所配属
 2003年~2012年 Panasonic㈱ 解析センター 主幹技師
 2013年4月~2016年3月 大阪大学大学院 工学研究科 非常勤講師
 2014年11月 Panasonic㈱ 退職
 2015年 6月 M.A信頼性技術オフィス 設立

<学会・関連団体での活動>
 日本信頼性学会 関西支部役員、広報委員
 日本信頼性学会  信頼性試験研究会幹事、故障物性研究会幹事
 JAXA 社外検討委員(2017,2018年度)

セミナーの概要

 近年、電子応用商品には小型化・省エネ化を目指して搭載部品レベルでも微細加工した部品や超薄型部品が搭載されています。一方、微細加工や薄膜素材の積層などでパターン間や素材間の電界強度が大きくなるため、市場でのトラブル増加が懸念されます。そこで、これらのトラブルをなくすために設計段階からFMEA・FMEAや製品の信頼性試験などを用いて不良ゼロを目指した活動がなされています。
 ところが、経済産業省やNITEなどに掲載のトラブル情報をみてみると、電子機器の市場トラブルはゼロになっているわけではありません。
 そこで、本セミナーではこれらの市場トラブルを少しでも少なくするために、信頼性の基礎知識から信頼性加速試験の設定の仕方、特にサンプルサイズと加速試験条件・試験時間の関係を詳細に紹介します。
具体的には、まず市場トラブルがなぜ発生するのかその対応の仕方を紹介し、市場の故障は時間経過によってどのように変化していくかを紹介します。次に故障時間を早く知るために、温度や湿度、温度差や振動など様々な市場ストレスに対応する加速試験モデルを紹介していきます。
 その結果、自社製品が市場使用環境で使われた期間に対する累積の故障確率を予測でき、また、その故障時間を製品の寿命目標値まで低減するための施策を提案できるようになります。

講義項目

 1 電子機器の市場における短寿命トラブル事例

 2 信頼性評価に用いる用語と信頼性の基礎
  2-1 信頼性用語の意味・定義
  2-2 市場故障数と故障時間の関係

 3 電子機器の信頼性を見極めるための試験法
  3-1 初期故障を低減するためのスクリーニング条件設定例
  3-2 偶発故障を推定するための試験時間とサンプルサイズ設定例

 4 耐用寿命を見極めるための具体的な加速試験
  4-1 寿命予測に用いる加速モデルと信頼性試験
  4-2 温度と故障時間の関係:アレニウスモデルの適用
  4-3 温湿度と故障時間の関係:アイリングモデルの適用
  4-4 温度差と故障時間の関係:修正コフィン・マンソンモデルの適用
  4-5 振動(加速度)と故障時間の関係:べき乗則の適用

 5 加速試験による耐用寿命予測の実際
  5-1 耐用寿命推定のプロセス
  5-2 加速試験による市場での寿命推定事例