化学品の市場調査、研究開発の支援、マーケット情報の出版

トリケップスセミナー

     開催日時:2019年1月24日(木)11:00~17:00
       会  場:ちよだプラットフォームスクウェア  → 会場へのアクセス 
            〒101-0054 東京都千代田区神田錦町3-21
     参 加 費:お1人様受講の場合 47,000円 (税別/1名)
          1口(1社3名まで受講可能)でお申し込みの場合 57,000円 (税別/1口)

講 師

本山 晃(もとやまあきら)氏  M.A信頼性技術オフィス 代表

<略 歴>
 1977年4月 松下電工㈱入社 綜合技術研究所配属
 2003年~2012年 Panasonic株式会社 解析センター 主幹技師
 2013年4月~2016年3月 大阪大学大学院 工学研究科 非常勤講師
 2014年11月 Panasonic株式会社 退職
 2015年 6月 M.A信頼性技術オフィス 設立

<学会・関連団体での活動>
 日本信頼性学会 関西支部役員、広報委員
 日本信頼性学会  信頼性試験研究会幹事、故障物性研究会幹事
 JAXA 社外検討委員(2017,2018年度)

セミナーの概要

 車載用の電子機器は長年ゼロディフェクトと言われており、設計段階から自社用にカスタマイズされたFMEAやタグチメソッドなどを用いて不良ゼロを目指した活動がなされています。ところが、国土交通省などのリコール情報をみると、まだまだ市場でのトラブルはゼロになっているわけではありません。本セミナーでは、これらのトラブルを少しでも少なくするための信頼性試験の考え方ややり方を詳細に解説します。
 その結果、電子機器が市場の使用環境でいつ(どのくらい使ったら)、どのくらいの割合で故障が起こるのか予測でき、その故障を目標値まで低減するための施策を提案できるようになります。

講義項目

 1 電子機器の市場トラブルの現状と課題

 2 電子機器を評価する際に用いる信頼性の基礎と信頼性用語
  2-1 信頼性用語の意味・定義
  2-2 故障率・故障数と時間の関係

 3 電子機器の信頼性を見極めるための試験法
  3-1 初期故障を低減するための基本的な考え方
  3-2 信頼水準を適用した偶発故障を見極める試験の考え方
  3-3 使用環境に対応した耐用寿命を見極める試験の考え方

 4 初期故障率を低減するためのスクリーニングの実際
  4-1 信頼性目標(初期故障期間での累積故障確率と使用時間)の設定
  4-2 AEC-Q100の規格を利用したスクリーニング時間の設定事例

 5 加速試験による市場での寿命予測の実際
  5-1 加速試験の種類と考え方
  5-2 寿命予測のプロセス
  5-3 加速試験による市場での寿命予測事例