化学品の市場調査、研究開発の支援、マーケット情報の出版

トリケップスセミナー

     開催日時:2017年3月17日(金)12:30~16:30
     会  場:中央大学駿河台記念館  → 会場へのアクセス 
          〒101-8324 東京都千代田区神田駿河台3-11-5
     参 加 費:お1人様受講の場合 43,000円 (税別/1名)
          1口(1社3名まで受講可能)でお申し込みの場合 56,000円 (税別/1口)

講 師

 金澤 靖 氏 / 豊橋技術科学大学 情報・知能工学系 准教授

講義項目

  1. はじめに
    1.1 画像の対応付けとは
    1.2 対応付けの用途による分類

  2. 対応付けの基礎
    2.1 対応付けの原理
    2.2 コーナー検出器
    2.3 SSDとSAD
    2.4 キーポイントと特徴量

  3. 特徴量とその記述
    3.1 特徴量とは
    3.2 HOG特徴量
    3.3 SIFT特徴量
    3.4 SURF特徴量

  4. 3次元復元のための対応付け
    4.1 エピ極線幾何
    4.2 ステレオ画像における対応付け
    4.3 RANSACによる対応付け
    4.4 遠景シーンに対する対応付け

  5. パターン認識における対応付け
    5.1 3次元復元との違い
    5.2 Visual Words

  6. 対応付けの高精度化
    6.1 対応付けの限界
    6.2 特殊な画像に対する高精度化

  7. おわりに