化学品の市場調査、研究開発の支援、マーケット情報の出版

トリケップスセミナー

     開催日時:2017年1月26日(木)11:00~16:00
     会  場:オームビル  → 会場へのアクセス 
          〒101-8460 東京都千代田区神田錦町3-1
     参 加 費:お1人様受講の場合 46,000円 (税別/1名)
          1口(1社3名まで受講可能)でお申し込みの場合 56,000円 (税別/1口)

講 師

瀬戸屋孝(せとやたかし)氏
 ㈱東芝 ストレージ&デバイスソリューション社 品質統括責任者
 / JEITA 半導体信頼性小委員会 主査

<略 歴>
 1983年 東芝入社。以降半導体の品質、信頼性業務に従事。2013年より現職。JEITA 半導体信頼性小委員会 主査、日科技連信頼性品質技術研究会副委員長、RCJ(日本電子部品信頼性センター)理事。

セミナーの概要

 EV/HEV向けにパワーデバイスの需要は今後、飛躍的に伸びることが予測されています。パワーデバイスは、大きな電流、急激な温度変化など、通常の半導体デバイスとは異なるストレスの影響を受け、その信頼性をいかに保証するかが重要な課題となっています。
品質や信頼性を保証するには特別な評価方法、確認方法が不可欠ですが、国際試験規格は膨大な評価サンプルが必要になるなどの問題もあります。一方、日本からは車載認定ガイドラインを発行するなどの動きも出てきています。
 本セミナーでは、パワーデバイスの動向をはじめに、信頼性試験の目的と役割、耐熱性・耐湿性評価やそのための試験法を中心に、その最新動向を、わかりやすく、かつ詳細に解説します。

講義項目

 1 パワーデバイスの市場動向
  1.1 パワーエレクトロニクスとパワーデバイス
  1.2 パワーデバイスの応用範囲
  1.3 高耐圧化と低オン抵抗化の要求

 2 信頼性試験の種類と役割
  2.1 信頼性試験の目的
  2.2 信頼性試験の種類と役割
  2.3 耐湿性試験法と加速性
  2.4 静電気破壊と過電圧破壊

 3 パワーデバイス特有の不良モードと試験法
  3.1 パワーデバイスの主な故障モード 
  3.2 パワーデバイスの主な市場故障モード分類 
  3.3 車の各部位と到達温度
  3.4 パワーサイクル試験法と不良モード

 4 パワーデバイスの国際試験規格動向
  4.1 AEC-Q100/101の紹介
  4.2 LV-324の紹介
  4.3 JEITA ED-4701/600の紹介
  4.4 今後のパワーデバイス信頼性試験法の動向

   質疑応答