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技術的テクニック、コツやノウハウから、考え方、アプローチに方法まで応用アプリケーションの事例を交えて解説!

R&D支援センターセミナー

       開催日時:2016年10月26日(水)10:30~16:30
       会  場:江東区産業会館 第2会議室  → 会場へのアクセス 
       参 加 費:49,980円(税込、昼食・資料付)

講 師

ジャパン・リサーチ・ラボ 代表 博士(工学) 奥村治樹 氏
大阪大学工学部 招聘研究員

【専 門】
表面・界面、接着、高分子、ナノ粒子、分析、ハイブリッド材料、等

定 員

 30名

受講対象・レベル

 様々な分野の若手から中堅、管理者まで、R&D、技術部門を中心とした技術系人材

趣 旨

 表面、界面はあらゆる技術や製品の基盤となるものであり、現在扱われる材料やプロセス、技術、商品で表面や界面が関与していない者は無いと言っても過言ではない。これは言い方を変えると、現代は表面、界面に支配されているということになる。これほど重要なものであることから、分析手法一つにしても多種多様なものが開発され、利用されている。しかし、一方で表面や、特に界面はまだ未解明な部分も多く、その本当の姿を明らかにして利用することは容易ではない。
 本講では、表面、界面の基礎から、分析評価を中心にして、その姿を明らかにして利用するためのアプローチについて、技術的テクニック、コツやノウハウから、考え方、アプローチに方法まで応用アプリケーションの事例を交えて解説する。

プログラム

1.表面に支配される現代社会
  1-1 表面・界面の重要性
  1-2 表面・界面で発生する代表的問題

2.表面とは?
  2-1 表面の要素
  2-2 表面における現象

3.界面とは?
  3-1 界面における現象
  3-2 薄膜化による界面の変化

4.表面・界面を支配するもの
  4-1 界面を形成する力
  4-2 界面形成因子と評価法

5.表面を支配するには?

6.表面分析成功のキーポイント
  6-1 表面分析の心構え
  6-2 試料の取り扱い(サンプリング、マーキング、輸送)
  6-3 裏表

7.問題解決アプローチ
  7-1 視る
  7-2 剥離状態の解析
  7-3 代表的要因別アプローチ
  7-4 複合要因の分離

8.樹脂/金属の接着

9.シランカップリング処理
  9-1 シランカップリング処理の基本
   1.代表的な処理方法、処理条件
   2.条件と構造の多様性の例
   3.基材表面の解析
   4.反応の理論(加水分解と自己縮合)
  9-2 視るべきポイント
  9-3 解析の難しさと障害
   1.シランカップリング反応のキー
   2.識別の困難性 (感度と類似性)
  9-4 シランカップリング反応の解析とは言うけれど
   1.反応解析のポイント
   2.反応率解析
  9-5 基材表面の解析法

10.代表的表面分析手法
  10-1 表面分析の分類 と選び方
  10-2 X線光電子分光法(XPS,ESCA)
   1.XPSの原理、特徴
   2.角度変化測定による深さ方向分析
   3.ハイブリッド分析
   4.チャージアップへの工夫
   5.イオンエッチングダメージ
   6.界面で正体不明のピークシフト
   7.ちょっと便利なサイトやソフト
  10-3 オージェ電子分光法(AES)
   1.AESの原理
   2.AES測定例
   3.XPSとAESの手法の比較
  10-4 X線マイクロアナライザ(EPMA)
  10-5 フーリエ変換赤外分光法(FT-IR) 
   1.赤外分光法(IR)の原理
   2.FT-IRの長所・短所
   3.測定法
   4.主な吸収帯と系統分析
   5.帰属の考え方
   6.全反射法(ATR法)
  10-6 飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)
   1.TOF-SIMSの概要
   2.TOF-MSの原理
  10-7 SEM(走査型電子顕微鏡)、TEM(透過型電子顕微鏡)
  10-8 走査型プローブ顕微鏡(SPM)
   1.代表的分析法と特徴
   2.形態観察におけるAFMの位置づけ
   3.位相イメージング

11.界面分析
  11-1 界面評価の重要性と課題
   1.界面の分類
   2.界面における課題
   3.一般的深さ方向分析
   4.従来法と問題点
   5.精密斜め切削法
   6.新しいアプローチ

12.解析の実例
  12-1 UV照射による化学構造の評価
   1.処理条件
   2.光照射による状態変化解析
   3.気相化学修飾法
   4.有機物のXPS分析における問題点
  12-2 化学修飾法を用いた表面官能基イメージング(TOF-SIMS)
  12-3 ポリイミドの表面処理層の深さ方向分析
   1.顕微ATRスペクトル
   2.各処理時間における深さ方向構造変化分布
  12-4 PI/Cu/Si界面の解析
   1.PI/Cu試料
   2.GSPによる深さ方向分析
  12-5 UV表面処理による構造変化の深さ方向解析
  12-6 In-situ測定

13.仮説思考による研究開発と問題解決
  13-1 仮説モデルの構築
  13-2 目的→ゴール、そして、仮説
  13-3 仮説の証明と分析
  13-4 課題解決・研究開発とは
  13-5 分析の位置づけ 『悪しき誤解』
  13-6 単なる道具
  13-7 俯瞰視点と仰望視点
  13-8 多面視点

14.質疑