FT-IRの基礎と異物分析事例およびスペクトル解析のポイント

～演習付き～
FT-IR装置を使いこなすために必要な技術を身につけよう！スペクトルパターンを用いたスペクトルの解析や、各種スペクトルデータ処理など、演習付きで詳細解説！

R＆D支援センターセミナー

　　　　　　　開催日時：2016年8月19日（金）10:30～16:30
　　　　　　　会　　場：江東区産業会館　第2会議室　　→ 会場へのアクセス　
　　　　　　　参加費：49,980円（税込、昼食・資料付）

講　師

サーモフィッシャーサイエンティフィック㈱
ケミカルアナリシス事業本部アプリケーション部マネージャー　小松　守氏

定　員

　30名

受講対象・レベル

　・FT-IR分析者、オペレータ

習得できる知識

　・FT-IRの基礎原理
　・FT-IRの分析手法
　・FT-IRのスペクトル解析
　・異物分析のサンプリング
　・顕微FT-IRの分析テクニック

趣　旨

　異物分析には様々な分析装置が用いられるが、有機物の分子構造解析が得意なFT-IR（赤外分光）は、主要な方法として用いられている。本講は、FT-IR装置を使いこなすために必要な技術を身につけるための講座。それぞれの装置の真価を発揮させるのに最低限必要な基礎知識、得られたスペクトルを解釈するコツ、陥りやすい失敗例、実際のアプリケーションなどを紹介する。最後に行う演習では、スペクトルパターンを用いたスペクトルの解析や、各種スペクトルデータ処理など、実践的な内容となっている。