～基礎／低加速電圧観察法／低真空SEM観察／断面試料作製法／像障害の回避法～
『帯電現象（チャージアップ現象）』や『コンタミネーション』の原因とその回避法とは？
　
こちらは 11/27実施WEBセミナー のアーカイブ（録画）配信です。期間中何度でも視聴できます

R&D支援センターウェビナー【アーカイブ配信】のご案内

　　　　　　　配信開始日：2025年12月1日（月）
　　　　　　　配信終了日：2025年12月10日（水）
　　　　　　　参 加 費：49,500円（税込）

備　考

・こちらは 11/27実施WEBセミナー のアーカイブ（録画）配信です。期間中何度でも視聴できます
・配信開始日以降に、セミナー資料（PDF）と動画のURLをメールでお送りします。セミナー資料の無断転載、二次利用や講義の録音、録画などの行為を固く禁じます。
　　
お申し込み受付中

申込方法

　下記のカートへの投入、あるいはFAX用紙にてお申込ください。

講　師

㈱日立ハイテク　CTソリューション開発部　シニア　　多持 隆一郎 氏

《ご専門》
　走査電子顕微鏡の応用技術開発

《ご経歴》
　　2001年4月～　（公社）日本顕微鏡学会SEM分科会常任幹事
　　2005年4月～　（公社）日本顕微鏡学会認定試験委員会委員（2018年～23年 副委員長）
　　2013年4月～2019年3月　NBCI計測・評価分科会　副主査
　　　　　　　　　　　　　　　　ナノテクノロジー委員会　副主査
　　2015年4月～　（公社）日本表面真空学会関東支部　副支部長
　　2017年4月～2019年3月　NEDO国プロ参画「複合計測システムの開発」
　　2023年6月～2025年6月　公益社団法人日本顕微鏡学会　常務理事
　　2025年6月～　公益社団法人日本顕微鏡学会　監事

受講対象・レベル

　SEMのユーザー全般。SEM初心者から中級者向けの講座とする。

習得できる知識

　SEMの原理、構造に加え、観察条件の設定方法、試料の特性に応じた前処理方法および観察中に遭遇する、帯電現象（チャージアップ現象）、コンタミネーションによる像の劣化の回避法について習得する。

趣　旨

　SEMは1965年に製品化されてから性能・機能および操作性が飛躍的に向上した。また、近年では自動機能も充実しており、SEMの初心者でもストレスなく操作ができることから、多くのユーザーが研究開発や品質管理のツールとして利用している。しかし、多くのユーザーは、観察目的に応じて観察条件を変更する作業を実施していないのが現状である。今回は、最終的にSEMを用いた解析が正しく実施できるために、試料の特性や観察目的に応じた、観察条件の設定方法や試料前処理について解説する。

プログラム