★米国AEC-Q100に準拠した試験を実施する場合と、日本版のAEC-Q100規格EDR-4708について、使い方について詳細に説明します！
★EV用のパワー半導体、SiCデバイスの信頼性の問題や、最近の話題についてもじっくり説明します！
　
こちらは 11/21実施WEBセミナー のアーカイブ（録画）配信です。

R&D支援センターウェビナー【アーカイブ配信】

　　　　　　　配信開始日：2024年11月22日（金）
　　　　　　　配信終了日：2024年11月29日（金）
　　　　　　　参 加 費：55,000円（税込）

備　考

・こちらは 11/21実施WEBセミナー のアーカイブ（録画）配信です。

・配信開始日以降に、セミナー資料をご登録いただいた住所に郵送します。動画のURLはメールでお送りします。セミナー資料の無断転載、二次利用や講義の録音、録画などの行為を固く禁じます。
　
お申し込み受付中

申込方法

　下記のカートへの投入、あるいはFAX用紙にてお申込ください。

講　師

（一財）日本電子部品信頼性センター　運営委員　　瀬戸屋 孝 氏

＜ご専門＞
　半導体品質保証　信頼性技術

＜学協会＞
　信頼性学会

＜ご略歴＞
　1983年東芝入社、以降半導体信頼性を担当、JEITA信頼性技術委員会主査を11年間担当。
　日科技連信頼性品質研究会運営委員

受講対象・レベル

・車載用半導体の信頼性技術担当者、製造技術者、利用者される方、興味をお持ちの方。

習得できる知識

・半導体製品の物理、化学的寿命予測方法の理解
・故障物性に基づく寿命予測方法を使った信頼性評価計画及び国際標準化動向　

趣　旨

　車載半導体の供給不足により新車納品が1年待ちなど，サプライチェーンの重要性が昨今注目されています。また今後のEVの急速な普及や安全保障の観点からも半導体の状況は、大きく変わってきています。
　車載用半導体の信頼性認定ガイドラインとしては、米国ビッグ3が中心になって策定され、今や世界標準になりつつあるAEC-Q100/101があります。AEC-Q100は、必要サンプル数の多さや試験時間の長さから評価コストが膨大になるという問題があります。その一方で、日本発の車載認定ガイドラインとしてJEITA ED-4708が2011年に発行され、2017年7月にIEC で国際標準化(IEC 60749-43)され現在は、IEC 63827シリーズへ再編されました。
　本セミナーでは、AEC-Q100に準拠した試験を実施する場合の留意点と、問題点、日本版のAEC-Q100規格EDR-4708について、使い方について詳細に説明します。 また、最近の話題として、EV用のパワー半導体が注目されており、特にSiCデバイスが普及期にありますが、信頼性の課題もあり、SiCデバイスの最近の話題について説明致します。

プログラム